出版書誌データベース

　世の中の市場や工程で発生した故障の事例は膨大で、一人の技術者もしくは組織として多くの知識を保有し、再発・未然防止に活用するのは困難です。本書はこの大きな課題に対する対応策の一つとして、「信頼性物理ベースでのアプローチ」が有効であるとの考えから執筆されたものです。「信頼性物理」を支えるベースとして、特に、物理的故障解析、信頼性試験、統計的データ解析の解説が充実しており、信頼性技術者にとって有益な信頼性に関する幅広い内容が含まれています。
　信頼性技術を見つめ直し、技術者として飛躍するための必読の書です。

　序章　これからの技術課題に立ち向かう信頼性物理
第I部　信頼性の基礎と物理的信頼性検証技術
　第1章　信頼性の基礎
　第2章　信頼性工学体系と妥当性検証技術
　第3章　物理的信頼性検証技術
第II部　故障に至る代表的な因子
　第4章　信頼性物理に基づく信頼性創り込み
　第5章　温度
　第6章　湿度
　第7章　応力
第III部　故障メカニズムを説明する物理・化学的反応
　第8章　故障メカニズム解明に対する故障解析と信頼性試験の役割
　第9章　表面・界面の特性と拡散による断線・劣化現象
　第10章　化学的酸化・腐食による劣化現象
　第11章　電気的絶縁破壊現象
　第12章　機械的ストレスによる破断・摩耗・劣化現象
　第13章　複合環境による故障メカニズム
　終章　まとめと今後必要となる物理的検証技術

監：木村 忠正
木村忠正
　1943年生まれ。1970年、東京大学大学院工学系研究科電子工学専攻博士課程終了、工学博士（東京大学）。
　1970年〜2009年、電気通信大学専任講師、助教授、教授、理事（兼副学長）、電気通信大学名誉教授。2010年〜2016年、科学技術振興機構プログラム主管。オプトエレクトロニクス、CVDダイヤモンド、シリコンフォトニクス、半導体故障物理などの研究に従事。応用物理学会フェロー。
　現在、信頼性関連では、日本電子部品信頼性センター故障物理研究委員会委員長、RCJ信頼性シンポジウム委員長、日本科学技術連盟RQ研究会運営委員、日本信頼性学会編集委員を務める。

著：門田 靖
門田靖
　1959年生まれ。東京都立大学理学部物理学科卒業。電子通信大学大学院博士課程修了。博士（工学）。
　1981年、（株）リコー入社。本社QA部門において信頼性・製品安全・環境安全・品質戦略関連部署長を歴任。
　現在、R&D部門において新規デバイスの信頼性技術開発に携わる。
　日本信頼性学会会長（元副会長、監事）、電子情報通信学会信頼性専門委員会副委員長、日本科学技術連盟信頼性創り込み、信頼性試験、基礎コース講座、技術小委員会運営小委員長、信頼性・保全性・安全性シンポジウム組織委員会副委員長、ビジネス機械・情報システム産業協会ASEANタスクフォース委員長。

著：藤本 直伸
藤本直伸
　1955年生まれ。1973 年、三菱電機（株）入社。品質保証部門・LSI研究所（太陽電池開発など）において、部品の品質保証（信頼性試験、故障解析など）を実施。高信頼性電子機器（防衛・車載・宇宙）に使用される部品の品質保証のために国内外の部品メーカの工場サーベイと品質改善を行った。
　現在、内藤電誠工業（株）技術顧問として、宇宙用ロケット（H-3、イプシロンなど)開発支援やJAXA関連の技術支援を行っている。
　日本信頼性学会評議員、（一社）日本科学技術連盟故障解析委員会運営委員長、信頼性委員会運営委員、信頼性・保全性・安全性シンポジウム組織委員会委員。