編著:二川 清
二川清
1949年大阪市生まれ。
大阪大学基礎工学部物性物理工学科卒業、同大学院修士課程修了。工学博士。
NEC、NECエレクトロニクス、大阪大学などで信頼性の実務と研究開発に従事。
現在、デバイス評価技術研究所 代表。
他著:石田 勉
石田勉
1946年飯山市生まれ。
信州大学工学部電気工学科卒業。
日本ケミカルコンデンサ(株)で品質管理、製品開発等に従事後、日本アイ・ビー・エム(株)で、製品保証、ソフトウェア品質、お客様満足度調査等に従事。現在、日本科学技術連盟主催信頼性セミナー講師。日本信頼性学会シンポジウム実行委員。
他著:鈴木 和幸
鈴木和幸
1950年渋谷区生まれ。
東京工業大学大学院博士課程 修了。工学博士。
電気通信大学 名誉教授、同大学大学院情報理工学研究科 特任教授。