現代学力テスト批判

実態調査・思想・認識論からのアプローチ

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著：北野　秋男

著：下司　晶

著：小笠原　喜康

出版社：東信堂

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内容紹介

ISBN：9784798914664
出版社：東信堂
判型：A5
ページ数：272ページ
定価：2700円（本体）
発行年月日：2018年01月
発売日：2018年01月18日
国際分類コード【Thema（シーマ）】１：JNT
国際分類コード【Thema（シーマ）】２：JNU
国際分類コード【Thema（シーマ）】３：JNW。

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