出版社を探す

Bilingual edition 精密計測学 Precision Metrology

著:高 偉
著:清水裕樹

紙版

内容紹介

・ページの上半分に日本語,下半分に英語で同内容を併記した精密計測学の教科書
・英語で講義を行う際の学習サポートにも,また日本語以外を母語とする留学生の参照用にも
・精密計測の原理・概要から,誤差分離法・機械学習の応用・光周波数コムなどを解説.

【主な目次】
Chapter1 精密計測の基準 Standards of Precision Metrology

Chapter2 長さスケール Length Scale

Chapter3 角度スケール Angle Scale

Chapter4 時間スケール Time Scale

Chapter5 幾何形状と表面性状の計測 Measurement of Geometrical Form and Surface Texture

Chapter6 光干渉計 Interferometry

Chapter7 マシンビジョン Machine vision

Chapter8 空間位置計測 Measurement of Volumetric Position

Chapter9 光学顕微鏡 Optical Microscopy

Chapter10 走査プローブ顕微鏡 Scanning Probe Microscopy

Chapter11 誤差要因と不確かさ Error Sources and Measurement Uncertainty

Chapter12 自律校正法 Self-Calibration Methods

Chapter13 機械学習と精密計測 Relationship between Machine Learning and Precision Measurement

Chapter14 超短パルスレーザと光周波数コム Ultrashort Pulse Laser and Optical Frequency Comb

参考文献 References
演習問題解答 Answers to Selected Problems
和文索引 Index in Japanese
英文索引 Index in English

著者略歴

著:高 偉
高 偉
著:清水裕樹
清水裕樹

ISBN:9784254201789
出版社:朝倉書店
判型:A5
ページ数:192ページ
定価:2900円(本体)
発行年月日:2024年04月
発売日:2024年04月01日
国際分類コード【Thema(シーマ)】 1:TG
国際分類コード【Thema(シーマ)】 2:JNSV
国際分類コード【Thema(シーマ)】 3:2GJ
国際分類コード【Thema(シーマ)】 4:2ACB