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X線散乱と放射光科学 基礎編

著:菊田 惺志

紙版

ISBN:9784130628310
出版社:東京大学出版会
判型:A5
ページ数:320ページ
定価:3800円(本体)
発行年月日:2011年08月
発売日:2011年08月24日
国際分類コード【Thema(シーマ)】 1:PHK