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蛍光X線分析の実際 第2版

編:中井 泉
監:日本分析化学会X線分析研究懇談会

紙版

内容紹介

試料調製,標準物質,蛍光X線装置スペクトル,定量分析などの基礎項目を平易に解説し,さらに食品中の有害元素分析,放射性大気粉塵の解析,美術品をはじめ文化財への非破壊分析など豊富な応用事例を掲載した実務家必携のマニュアル。

著者略歴

編:中井 泉
東京理科大学教授

ISBN:9784254141030
出版社:朝倉書店
判型:A5
ページ数:280ページ
定価:5900円(本体)
発行年月日:2016年07月
発売日:2016年07月15日
国際分類コード【Thema(シーマ)】 1:PNF