目次

はじめに
第1章　直接観察法と間接法による結晶解析
　　1.1 透過型電子顕微法（Transmission Electron Microscopy）
　　1.2 電界イオン顕微法（Field Ion Microscopy）
　　1.3 走査トンネル顕微法 （Scanning Tunneling Microscopy）

第2章　結晶学入門
　　2.1 結晶の次元性と分類
　　2.2 結晶系（晶系）
　　2.3 結晶方位と面指数
　　2.4 面間隔
　　2.5 Wulff（ウルフ）網を用いた投影
　　2.6 対称操作と並進対称性の共存
　　2.7 Bravais（ブラベ）ファミリーと逆格子点
　　2.8 実格子と逆格子
　　2.9 逆格子の広がりと Laue（ラウエ）関数
　　2.10 回折現象と逆格子
　　2.11 Ewald（エワルト）球と限界球
　　2.12 らせん軸と映進
　　2.13 空間群

第3章　回折現象
　　3.1 原子による散乱
　　3.2 トムソン散乱
　　3.3 原子散乱因子
　　3.4 異常分散効果
　　3.5 中性子回折
　　　　3.5.1 散乱長，bc
　　　　3.5.2 磁気散乱
　　　　3.5.3 非干渉性散乱
　　3.6 幾何学因子，Lorentz因子
　　3.7 吸収補正
　　3.8 温度因子
　　3.9 X線の発生
　　3.10 シンクロトロン放射光
　　3.11 特性X線
　　3.12 フィルター
　　3.13 モノクロメータ
　　3.14 粉末回折法を用いた自動結晶解析
　　3.15 JCPDSデータシステム
　　3.16 回折ピーク位置から晶系と消滅則を決定する
　　3.17 Rietveld法による解析
　　3.18 最小二乗法
　　3.19 R 因子など

　　練習問題解答例

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