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SiC/GaNパワー半導体の実装と信頼性評価技術

編著:菅沼 克昭

紙版

ISBN:9784526073397
出版社:日刊工業新聞社
判型:A5
ページ数:256ページ
定価:3600円(本体)
発行年月日:2014年12月
国際分類コード【Thema(シーマ)】 1:TJF