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ソフトウェア開発の定量化手法

第3版

生産性と品質の向上をめざして

著:Capers Jones
監:富野 壽
監:小坂 恭一

紙版

内容紹介

ソフトウェア開発・保守において、測定が重要なカギとなっている。本書では、初版、第2版につづき、2008年までの新たな知見も加え、ファンクションポイント(FP)尺度を用いた測定の重要性とその目的を解説している。また、定量化の歴史とそれぞれの手法の特徴をまとめており、第2版以降、急速に発展したWeb開発の新たな定量化手法として注目を集めるアジャイル手法についても詳解している。
 本書はソフトウェア開発に携わるすべての人にわかりやすく充実した内容となっている。入門書かつ決定版、開発者必携の1冊!

[原書名:Applied Software Measurement Global Analysis of Productivity and Quality Third Edition]
(株)構造計画研究所発行/共立出版(株)発売

目次

第1章 序論
ソフトウェア定量化
計画作成と見積り
管理者と技術者
組織構成
方法論とツール
オフィス環境
再利用可能性
ソフトウェア定量化の本質的側面
企業は何を測定するか?
定量化とソフトウェアライフサイクル
定量化手法の構成
ソフトウェア定量化の社会学
データの機密性の社会学
成果目標にデータを利用することの社会学
1人で行うプロジェクトの定量化の社会学
経営情報システム(MIS)対システムソフトウェアの社会学
測定専門技術の社会学
定量化手法の推進
定量化手法と将来展望
推薦文献
参考文献

第2章 ソフトウェア尺度の歴史と発展
ソフトウェア産業の発展とソフトウェア計測の発展
ファンクションポイント尺度による計測コスト
言語高水準化と生産性低下のパラドックス
2008年時点における機能的尺度
アプリケーション規模と生産性
機能的尺度の今後の技術的展開
機能的尺度についてのまとめ
ソフトウェア計測とファンクションポイントに基づかない尺度
推薦文献

第3章 米国におけるソフトウェア生産性と品質の平均
データの誤差
1990~2008年における顕著なソフトウェア技術の変化
第3版における構成,形式,内容の変更点
ソフトウェアの7分野間の開発プラクティスの差異
ソフトウェア生産性の分布,平均,分散
生産性と品質に対する技術の影響
技術に対する警告と適用除外
「業界トップ」レベルの目標設定とファンクションポイントの利用法

第4章 定量化のしくみ:ベースラインの明確化
ソフトウェアアセスメント
ソフトウェアベースライン
ソフトウェアベンチマーク
ベースライン研究のしくみ
ベースライン分析の対象
ベースラインデータ収集手段の開発/購入
データ収集アンケート用紙の管理
ベースラインデータの分析とまとめ
推薦文献
参考文献

第5章 ソフトウェアの品質と顧客満足度の測定
旧版後の新しい品質関連情報
品質管理と国際競争
測定と見積りのための品質定義
品質管理のための5 つのステップ
米国のソフトウェア品質管理
ソフトウェア欠陥除去の測定
欠陥除去率の測定
欠陥多発モジュールの発見と除去
テストケースカバレッジを評価する尺度の利用
信頼性予測のための尺度の利用
欠陥除去コストの測定
欠陥予防手法の評価
顧客からの欠陥報告の測定
無効欠陥,重複欠陥,および特殊なケースの測定
顧客満足度の測定
顧客満足度と欠陥データの関係
要約と結論
著名文献
推薦文献
参考文献

第6章 測定,尺度,および産業界のリーダーシップ
企業は何を測定するのか?
業界リーダの測定と尺度
測定,尺度,イノベーション
測定,尺度とアウトソース訴訟
測定,尺度と行動変化
現在の測定に含まれていない話題
単純で危険な測定や尺度のついての警鐘
ソフトウェア測定のためのツール
要約と結論
推薦文献

第7章 ソフトウェア測定における問題の要約
合成尺度と自然尺度
ソフトウェアの特性,範囲,クラス,タイプの定義のあいまい性
ソフトウェアプロジェクトのアクティビティとタスクの定義と測定のあいまい性
偽りの広告と生産性についての不正な主張
プロジェクトの要員に関する測定がなされていないこと
統制範囲のあいまい性と組織の測定
測定のミッシングリンク:プロジェクトはいつ開始するのか?
マイルストン,スケジュール,重複,およびスケジュール遅延の測定のあいまい性
重複するアクティビティの問題
ソフトウェアプロジェクトの資源追跡データのもれ
標準時間尺度のあいまい性
ソフトウェアの測定と尺度についての不適切な大学教育
ソフトウェアの測定のための不適切な標準
LOC 尺度についての標準の欠如
比率や割合を用いる危険性と問題点
生産性の測定にかかわるあいまい性
複雑度の測定におけるあいまい性
機能的尺度のあいまい性
品質尺度のあいまい性
欠陥/ KLOC のあいまい性
コスト/欠陥尺度のあいまい性
潜在欠陥量と欠陥除去率の測定の失敗
ソフト要因の影響の測定について
ソフトウェア価値の測定の問題
効果的な測定と尺度の自動化の不足─諸ツールについて
ソフトウェア測定に対する社会的・政治的抵抗
ソフトウェア測定と尺度の用語のあいまい性
尺度を目標の確立に用いる
要約と結論
推薦文献
参考文献

ISBN:9784320097582
出版社:構造計画研究所
判型:菊判
ページ数:592ページ
定価:7500円(本体)
発行年月日:2010年07月
発売日:2010年07月24日
国際分類コード【Thema(シーマ)】 1:UB